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发明名称 CIRCUIT OF PARALLEL BIT TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR100197561(B1) 申请公布日期 1999.06.15
申请号 KR19950054755 申请日期 1995.12.22
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 YU, JE-HWAN;KIM, NAM-JONG
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
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