发明名称 Sicherheitssystem für integrierte Schaltung und Verfahren mit implantierten Leitungen
摘要 An integrated circuit is protected from reverse engineering by connecting doped circuit elements of like conductivity (2S, 4S; 2D, 4D; 10D, 12S) with a doped implant (20, 22, 24) in the substrate (38), rather than with metallized interconnect. <IMAGE> <IMAGE>
申请公布号 DE69324637(D1) 申请公布日期 1999.06.02
申请号 DE1993624637 申请日期 1993.07.28
申请人 HUGHES ELECTRONICS CORP., EL SEGUNDO, CALIF., US 发明人 BAUKUS, JAMES P., WESTLAKE VILLAGE, CA 91361, US;CLARK, WILLIAM M., JR., THOUSAND OAKS, CA 91360, US;CHOW, LAP-WAI, MONTEREY, CA 91754, US;KRAMER, ALLAN R., SIMI VALLEY, CA 93065, US
分类号 H01L23/52;G11C7/24;H01L21/3205;H01L21/822;H01L23/58;H01L27/02;H01L27/04;(IPC1-7):H01L23/58 主分类号 H01L23/52
代理机构 代理人
主权项
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