测试集成电路芯片的探针卡

摘要

提供一种测试集成电路(IC)芯片的探针卡,包括:印刷电路板,其上具有测试电路,其还具有窗口;连接到印刷板上的多个探针,用于探测形成于芯片上的焊盘;围绕印刷电路板的窗口安装的固定环,由此固定连接于印刷电路板上的芯片测试用探针;在与固定环相互交叉的两相邻芯片的接触区附近安装的固定桥,固定某些用于探测靠近两相邻芯片间的线形成的接触焊盘的探针。

主权项

1．一种测试集成电路芯片(IC芯片)的探针卡，包括：印刷电路板，其上具有测试电路，用于同时测试至少两个芯片的电特性，其中央还具有窗口，用于放置待测试的芯片；连接到印刷板上的多个探针，用于探测形成于芯片上的接触焊盘，以便进行芯片测试；围绕印刷电路板的窗口安装的固定环，由此固定连接于印刷电路板上的芯片测试用探针；在与固定环相互交叉的两相邻芯片的接触区附近安装的固定桥，固定某些用于探测靠近两相邻芯片间的线形成的接触焊盘的探针。