| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR STORAGE AND ITS TEST METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11149797(A) |
申请公布日期 |
1999.06.02 |
| 申请号 |
JP19970333463 |
申请日期 |
1997.11.18 |
| 申请人 |
HITACHI LTD;HITACHI ULSI SYSTEMS CO LTD |
发明人 |
INOUE YOSHIHIKO;OUCHI TSUKASA;YOSHIOKA HIROSHI |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/34;H01L21/66;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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