| 发明名称 |
METHOD FOR MEASURING AND PROCESSING GAMMA VALUE AND DEVICE THEREOF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100189924(B1) |
申请公布日期 |
1999.06.01 |
| 申请号 |
KR19960025942 |
申请日期 |
1996.06.29 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. |
发明人 |
BAE, KWANG-SEOK |
| 分类号 |
H04N5/202;(IPC1-7):H04N5/202 |
主分类号 |
H04N5/202 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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