发明名称 |
OXIDE FILM THICKNESS MEASURING SYSTEM |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH11142577(A) |
申请公布日期 |
1999.05.28 |
申请号 |
JP19970305274 |
申请日期 |
1997.11.07 |
申请人 |
HITACHI LTD;HITACHI NUCLEAR ENG CO LTD |
发明人 |
FUJIWARA KENICHI;YASUDA TAKAYOSHI;FUKUMOTO TAKASHI |
分类号 |
G01B7/06;G01B7/00;G21C17/003;G21C17/06;(IPC1-7):G21C17/003 |
主分类号 |
G01B7/06 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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