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发明名称
Testing of a semi-conductor integrated circuit device
摘要
申请公布号
EP0817202(A3)
申请公布日期
1999.05.26
申请号
EP19970110668
申请日期
1997.06.30
申请人
NEC CORPORATION
发明人
ISHIDA, RYUJI
分类号
G01R31/28;G06F12/16;G11C29/12;(IPC1-7):G11C29/00
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
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