| 发明名称 |
APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECTS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0917649(A1) |
申请公布日期 |
1999.05.26 |
| 申请号 |
EP19970935399 |
申请日期 |
1997.08.08 |
| 申请人 |
CENTRE DE RECHERCHE INDUSTRIELLE DU QUEBEC |
发明人 |
GAUTHIER, PIERRE |
| 分类号 |
G01N21/898;G01N33/46;(IPC1-7):G01N21/89 |
主分类号 |
G01N21/898 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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