| 发明名称 |
METHOD FOR ANALYZING ION COMPONENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11133016(A) |
申请公布日期 |
1999.05.21 |
| 申请号 |
JP19970332268 |
申请日期 |
1997.10.27 |
| 申请人 |
SUMIKA CHEMICAL ANALYSIS SERVICE LTD |
发明人 |
IIKAWA REIKO;HOSHINO HIDEKI;TAKEDA KIKUO |
| 分类号 |
G01N30/04;G01N30/06;G01N30/08;G01N30/88;(IPC1-7):G01N30/88 |
主分类号 |
G01N30/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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