| 摘要 |
<P>La présente invention concerne un procédé de test d'un circuit intégré (1) comprenant une capacité d'entrée (Cin ) prévue pour former, avec une bobine d antenne (11), un circuit récepteur résonant (10) de fréquence propre (Fp) prédéterminée. Selon l'invention, on connecte la capacité d'entrée (Cin ) à une inductance de test (Lt, Lf2, Lf3, Lf4) choisie pour former, avec la capacité d'entrée (Cin ), un circuit de test résonant (45, 47) ayant une fréquence de résonance sensiblement égale à la fréquence propre (Fp) du circuit récepteur résonant (10), et on excite le circuit de test (45) au moyen d'un signal alternatif (lac) par l'intermédiaire d'un transformateur (41). Application au test de circuits intégrés inductifs fonctionnant sans contact.</P> |
