摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer Chalkogenidglasschicht sowie eine eine solche schicht enthaltende Elektrode zur Detektion von Schwermetallen. Zur Realisierung einer auf diese Weise miniaturisierbaren Elektrode in Dünnschichttechnologie wird vorgeschlagen, die Schicht mit Hilfe der Laserablation zu bilden.</p> |