| 发明名称 |
Semiconductor test chip with on-wafer switching matrix |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2310047(B) |
申请公布日期 |
1999.05.19 |
| 申请号 |
GB19970008546 |
申请日期 |
1995.10.26 |
| 申请人 |
* MITEL CORPORATION |
发明人 |
TAJINDER * MANKU;WENYI * SONG |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F11/273;G11C29/12;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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