| 发明名称 |
Probe card for testing integrated circuit chips |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2331408(A) |
申请公布日期 |
1999.05.19 |
| 申请号 |
GB19980014089 |
申请日期 |
1998.07.01 |
| 申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD. |
发明人 |
HAN-SHIK * LEE;HOON-JUNG * KIM |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R1/073;G01R31/28;H05K1/11;H05K13/08;(IPC1-7):G01R1/073 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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