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发明名称 INTERFACE FOR TEST OF CHANNEL PART TEST
摘要
申请公布号 KR100177679(B1) 申请公布日期 1999.05.15
申请号 KR19960023594 申请日期 1996.06.25
申请人 SAMSUNG ELECTRO-MECHANICS CO., LTD. 发明人 BAEK, HYUN-WOOK
分类号 H04B17/00;(IPC1-7):H04B17/00 主分类号 H04B17/00
代理机构 代理人
主权项
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