| 发明名称 |
ABSOLUTE MEASUREMENT METHOD OF REFLECTION RATE USING LIGHT SPLITTER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100178434(B1) |
申请公布日期 |
1999.05.15 |
| 申请号 |
KR19950038417 |
申请日期 |
1995.10.31 |
| 申请人 |
KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIEBCE |
发明人 |
KIM, CHANG-SOON |
| 分类号 |
G02B27/10;(IPC1-7):G02B27/10 |
主分类号 |
G02B27/10 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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