METHOD FOR TESTING THE BUS TERMINALS OF WRITABLE-READABLE INTEGRATED ELECTRONIC INTEGRATED CIRCUITS, ESPECIALLY OF MEMORY CHIPS

摘要

Es werden Adress- und Datenbitprüfmuster so ausgewählt, dass im ersten Schritt von Schreib- bzw. Leseschritten die Bits des Adressbitprüfmusters eine erste binäre Wertigkeit und im ersten Schritt von Schreibschritten die Bits des Datenbitprüfmusters eine zweite Wertigkeit aufweisen, und pro folgendem Schritt vom nieder- oder höchstwertigsten Bit an dem jeweils benachbarten Bit die im Vergleich zum vorangegangenen Schritt komplementäre binäre Wertigkeit zugeordnet wird, bis im letzten Schritt alle Bits des Adress- bzw. Datenbitprüfmusters eine komplementäre Wertigkeit aufweisen.