发明名称 Apparatus for and method of evaluating multilayer thin films
摘要
申请公布号 EP0650030(B1) 申请公布日期 1999.05.12
申请号 EP19950100378 申请日期 1990.09.24
申请人 MITSUBISHI DENKI KABUSHIKI KAISHA;JASCO CORPORATION 发明人 NISHIZAWA, SEIZI;TAKAHASHI, TOKUZI,;FUKAZAWA, RYOICHI;HATTORI, RYO
分类号 G01B11/06;(IPC1-7):G01B11/06 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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