发明名称 测量仪器用前端架构
摘要 一前端架构提供至测量仪器具有一输入信号单一路径以转入数位取样。一信号条件器可经一组跨在电压源,电流或元件上的测试探棒偶合以形成输入信号。该输入信号提供至取样系统,其包括接在十分之一滤波器后的加总-部分选入输出差值转换器,其重覆取样该输入信号以产生数位取样连续流。该数位取样提供至一组数位摘取滤波器,每个数位摘取滤波器具有一结构及转移函数调整来自数位取样流摘取测量参数。参数摘取是在连续的基础下完成使得数位取样及产生的数位测量值以连续流抵达。摘取的参数包括输入信号直流值,输入信号rms值,输入信号波形参数及输入信号波峰最小/最大值。
申请公布号 TW358157 申请公布日期 1999.05.11
申请号 TW087103234 申请日期 1998.03.05
申请人 富鲁克股份有限公司 发明人 史蒂芬D.斯威夫特
分类号 G01R11/00 主分类号 G01R11/00
代理机构 代理人 陈文郎 台北巿南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种测量仪器用的测量前端,包括:(a)一信号条件器用以接收电压信号并自该电压信号产生输入电压;(b)一取样系统偶合至该信号条件器以接收该输入电压并产生该输入信号的数位取样;及(c)一组数位摘取滤波器,每个该等数位摘取滤波器偶合至该取样系统以接收该数位取样,其中该等数位摘取滤波器自该等数位取样摘取数个该输入信号的测量参数。2.如申请专利范围第1项的测量仪器用的测量前端,该取样系统尚包括一数位界面偶合至该组数位摘取滤波器以自该组测量滤波器接收该等测量参数并提供数位测量値至该测量仪器。3.如申请专利范围第1项的测量仪器用的测量前端,该取样系统尚包括:(a)一加总-部分选入输出差値转换器以接收该输入电压并产生初始数位取样;及(b)一十分之一滤波器偶合至该加总-部分选入输出差値转换器以接收该初始数位取样并产生该数位取样。4.如申请专利范围第1项的测量仪器用的测量前端,该取样系统尚包括类比至数位转换器以接收该输入电压并产生该数位取样。5.如申请专利范围第1项的测量仪器用的测量前端,该组数位摘取滤波器尚包括一直流摘取滤波器,一rms摘取滤波器,一波形摘取滤波器及一峰値最小/最大摘取滤波器。6.如申请专利范围第1项的测量仪器用的测量前端,该测量参数尚包括直流,rms,波形及峰値最小/最大。7.如申请专利范围第1项的测量仪器用的测量前端,其中该组数位摘取滤波器连续摘取该数个测量参数。8.一种在测量仪器中自电压信号获得数个测量参数的方法,包括:(a)调整该电压信号以获得输入信号;(b)在取样系统中取样该输入信号以获得数位取样;及(c)使用一组数位摘取滤波器自该数位取样摘取该数个测量参数。9.如申请专利范围第8项之在测量仪器中自电压信号获得数个测量参数的方法,尚包括选择性提供该数个测量参数至该测量仪器做为数位测量値。10.如申请专利范围第8项之在测量仪器中自电压信号获得数个测量参数的方法,该组数位摘取滤波器尚包括一直流摘取滤波器,一rms摘取滤波器,一波形摘取滤波器及一峰値最小/最大摘取滤波器。11.如申请专利范围第10项之在测量仪器中自电压信号获得数个测量参数的方法,该数个测量参数尚包括直流,rms,波形及峰値最小/最大。12.如申请专利范围第8项之在测量仪器中自电压信号获得数个测量参数的方法,尚包括使用该组数位摘取滤波器自该数位取样连续摘取该数个测量参数。图式简单说明:第一图显示当偶合至电压源时能测量多数物量参数的测量仪器;第二图显示第一图的测量仪器可偶合的电流源;第三图显示第一图的测量仪器可偶合的电压源;第四图为如本发明之测量仪器的测量前端的简化方块图;第五图为如本发明之测量仪器的第二测量前端的简化方块图;第六图为如本发明较佳应用实施例之测量仪器的第二测量前端的简化方块图;第七图在前端架构内数位摘取滤波器的简化方块图,用以自如本发明连续基础上之数位取样流摘取rms値;及第八图为如本发明另一个应用实施例之测量仪器的测试前端之简化方块图。
地址 美国