Method for testing bus connections of read/write integrated electronic circuits, in particular memory circuits

摘要

Es werden Adreß- und Datenbitprüfmuster so ausgewählt, daß im ersten Schritt von Schreib- bzw. Leseschritten die Bits des Adreßbitprüfmusters eine erste binäre Wertigkeit und im ersten Schritt von Schreibschritten die Bits des Datenbitprüfmusters eine zweite Wertigkeit aufweisen, und pro folgendem Schritt vom nieder- oder höchstwertigsten Bit an dem jeweils benachbarten Bit die im Vergleich zum vorangegangenen Schritt komplementäre binäre Wertigkeit zugeordnet wird, bis im letzten Schritt alle Bits des Adreß- bzw. Datenbitprüfmusters eine komplementäre Wertigkeit aufweisen. <IMAGE>