| 发明名称 |
Method and device for testing integrated circuits |
| 摘要 |
A TAP linking module (21, 51) permits plural TAPs (TAPs 1-4) to be controlled and accessed from a test bus (13) via a single TAP interface (20). <IMAGE> |
| 申请公布号 |
EP0826974(A3) |
申请公布日期 |
1999.05.06 |
| 申请号 |
EP19970114556 |
申请日期 |
1997.08.22 |
| 申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED |
发明人 |
WHETSEL, LEE D. |
| 分类号 |
G01R31/3185 |
主分类号 |
G01R31/3185 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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