| 发明名称 |
Processo para medição do produto condutividade de camada vezes espessura de camada instalação para medição de espessura de uma camada em material condutor não ferromagnético sobre um objeto constituído de um substrato em material condutor ferromagnético e utilização do processo e/ou da instalação para medição |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
BR9608666(A) |
申请公布日期 |
1999.05.04 |
| 申请号 |
BR19960008666 |
申请日期 |
1996.06.18 |
| 申请人 |
BEKAERT NAAMLOZE VENNOOTSCHAP |
发明人 |
HALLEUX BENOIT DE;BRUNO DE LIMBURG STIRUM |
| 分类号 |
G01B;G01B1/00;G01B7/02;G01B7/06;G01N27/72;(IPC1-7):G01B1/00 |
主分类号 |
G01B |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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