发明名称 电压产生电路
摘要 发明之课题:提供可和依据所选到储存单元电晶体之位置之临限电压之变动连动输出之多值单元用电压产生电路。解决前述课题之手段:一种电压产生电路,在电压产生电路内具有段数和储存单元电晶体相同之部分电路101~部分电路105,该部分电路分别具有单元部分电路106~单元部分电路110,该单元部分电路具有储存单元电晶体和电阻,该电阻之电阻值设为和因寄生而附加在储存单元电晶体之源极端子及汲极端子之电阻值相等,在该部分电路连接和字元线相同的信号,藉着选择和字元线所选到储存单元电晶体相等之部分电路,可产生和因源极电位和基板电位之差而发生之临限电压之变动连动之电压。
申请公布号 TW357348 申请公布日期 1999.05.01
申请号 TW086117242 申请日期 1997.11.14
申请人 电气股份有限公司 发明人 日比野健次;铃贵幸
分类号 G11C11/34;G11C17/10;G11C17/18 主分类号 G11C11/34
代理机构 代理人 周良谋 新竹巿林森路二七八号十二楼之一
主权项 1.一种电压产生电路,于用以控制具有多値储存单 元之一 半导体记忆装置中的X解码电路之输出的电压控制 产生电 路中,其特征在于:具有彼此并联且段数和储存单 元之字 元线数相同之部分电路;该部分电路具有电路形式 和储存 单元部等价之单元部分电路;在该部分电路连接和 该字元 线相同之信号;选择和字元线所选到的储存单元电 晶体之 位置相对应之部分电路,依据该部分电路之单元部 分电路 所具有的电晶体之临限电压产生输出电压。2.如 申请专利范围第1项之电压产生电路,其中,令该单 元部分电路所具有的该电晶体变成和储存单元电 晶体等价 之电晶体,在该单元部分电路之该电晶体之汲极及 /或源 极附加和在储存单元电晶体附加之寄生电阻等价 之电阻。3.一种电压产生电路,用以控制一半导体 记忆装置中之X 解码电路之输出,该半导体记忆装置,包含:储存电 晶体 ,分别配置在多条字元线和多条数位线之交叉位置 ,并依 据较藉着离子注入而实现之接地电压为大之第1临 限电压( Vt0)、较该第1临限电压为大之第2临限电压(Vt1)、 较该 第2临限电压为大之第3临限电压(Vt2)、较该第3临 限电压 为大之第4临限电压(Vt3)等临限电压中之一者被写 入之资 料予以设定;及前述X解码电路,用以将该储存电晶 体予 以解码,而其输出端与该等字元线相连接;其特征 在于: 该电压产生电路具有构造和形成该储存电晶体之 储存电晶 体区域内之基本单位之储存体(Bank)相同之虚拟储 存体列 ;且在该虚拟储存电晶体被选定时,将该虚拟储存 体列内 之虚拟储存电晶体之闸极控制成和该电压产生电 路之输出 端相连接。4.如申请专利范围第3项之电压产生电 路,其特征在于: 备有:负载MOS电晶体及第1部分电路;该负载MOS电晶 体 ,系由加强型P通道电晶体构成,该加强型P通道电晶 体的 源极端子和电源连接,其汲极端子和电压产生电路 之输出 端连接,而其闸极端子和晶片活化信号连接;该第1 部分 电路系与该负载MOS电晶体连接,包括:第1选择电晶 体, 其汲极端子和该电压产生电路之输出端连接,其源 极端子 和第1单元部分电路之第1输入端连接,而其闸极端 子连接 和储存单元部之第1字元线连接之信号;及第2选择 电晶体 ,其汲极端子和该第1单元部分电路之第2输入端连 接,其 源极端子接地,而其闸极端子和该第1选择电晶体 之闸极 端子共通连接;该第1单元部分电路包括第1储存单 元电晶 体和第1电阻;该第1电阻之一端和第1选择电晶体之 源极 端子连接,另一端和第1储存单元电晶体之汲极端 子连接 ;该第1储存单元电晶体之源极端子和该第2选择电 晶体之 汲极端子连接,而其闸极端子和电压产生电路之输 出连接 ;在该电压产生电路内,另具有构造和第1部分电路 相同 之第2部分电路和第3部分电路;该第2部分电路之该 第1单 元部分电路,包括第2储存单元电晶体和第2电阻及 第3电 阻;该第2电阻之一端和第3选择电晶体之源极端子 连接, 另一端和第2储存单元电晶体之汲极端子连接;该 第3电阻 之一端和该第2储存单元电晶体之源极端子连接, 另一端 和第4选择电晶体之汲极端子连接;该第2储存单元 电晶体 之闸极端子和该电压产生电路之输出端连接;该第 3部分 电路之该第1单元部分电路,包括第3储存单元电晶 体和第 4电阻;该第4电阻之一端和第5选择电晶体之汲极端 子连 接,另一端和第3储存单元电晶体之源极端子连接; 该第3 储存单元电晶体之汲极端子和第6选择电晶体之源 极端子 连接,第3储存单元电晶体之闸极端子和该电压产 生电路 之输出端连接;将具有该3个电路形式之该等部分 电路, 以和储存单元之字元线相同数目彼此并联连接;在 该等部 分电路分别连接和储存单元之各字元线连接之信 号,产生 对应于储存单元位置之电压。5.如申请专利范围 第3项之电压产生电路,其中:该第1部 分电路包括储存单元电晶体和第1传输闸电路及第 1反相电 路;该第1传输闸电路由第1NMOS电晶体和第1PMOS电晶 体 构成,该第1NMOS电晶体和该第1PMOS电晶体之源极端 子和 汲极端子共通连接;该第1NMOS电晶体和该第1PMOS电 晶体 所共通连接之源极端子连接于该储存单元电晶体 之闸极端 子;该第1NMOS电晶体和该第1PMOS电晶体所共通连接 之汲 极端子连接于电压产生电路之输出端子;在该第1 NMOS电 晶体之闸极端子连接第1储存单元部之字元线;该 第1储存 单元部之字元线成为该第1反相电路之输入端;将 该第1反 相电路之输出端和该第1PMOS电晶体之闸极端子相 连接之 部分电路,以和储存单元之字元线相同数目彼此串 联连接 ;在该各部分电路分别连接和储存单元之各字元线 连接之 信号,而产生对应于储存单元之位置之电压。图式 简单说 明:第一图系表示本发明之一实施例之电路构造图 。第二 图系表示本发明之其他实施例之电路构造图。第 三图系表 示将本发明之一实施例之电压产生电路之表示输 出电压及 感测速度之输出波形和作为比较例之利用习知技 术之表示 输出电压及感测速度之输出波形比较之图。第四 图系表示 习知技术之电压产生电路之电路构造图。第五图 系表示使 用习知技术之电压产生电路之解码电路之电路构 造图。第 六图系表示使用第五图所示习知之解码电路之时 序图。第 七图系表示习知之多値单元型遮蔽罩ROM所用储存 单元阵 列之图。第八图系表示使用习知之电压产生电路 之之表示 输出电压及感测速度之输出波形图。
地址 日本