METHOD FOR CONTROLLING TEST MODE,申请号KR19930002979-传众专利搜索

发明名称	METHOD FOR CONTROLLING TEST MODE
摘要
申请公布号	KR176460(B1)	申请公布日期	1999.05.01
申请号	KR19930002979	申请日期	1993.02.26
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD.	发明人	LEE, SANG-SOO
分类号	H04N17/04;(IPC1-7):H04N17/04	主分类号	H04N17/04
代理机构		代理人
主权项
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