发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Mustererkennung
摘要
申请公布号 DE69417273(D1) 申请公布日期 1999.04.29
申请号 DE19946017273 申请日期 1994.01.13
申请人 NEC CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 ISO, KEN-ICHI, MINATO-KU, TOKYO, JP
分类号 G10L15/02;G10L15/10;G10L15/14;(IPC1-7):G10L5/06;G10L7/08;G10L9/06;G10L9/16;G10L9/18 主分类号 G10L15/02
代理机构 代理人
主权项
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