| 发明名称 |
TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11111923(A) |
申请公布日期 |
1999.04.23 |
| 申请号 |
JP19970266409 |
申请日期 |
1997.09.30 |
| 申请人 |
NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD |
发明人 |
KUSABA KAZUYUKI |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):H01L27/04;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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