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发明名称 MULTI-CHANNEL A/D CONVERTER TEST METHOD AND CIRCUIT
摘要
申请公布号 KR0183933(B1) 申请公布日期 1999.04.15
申请号 KR19960044126 申请日期 1996.10.05
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 BANG, HEON
分类号 G01R31/00;(IPC1-7):G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项
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