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发明名称 SELF TESTING CIRCUIT OF MEMORY
摘要
申请公布号 KR0178005(B1) 申请公布日期 1999.04.15
申请号 KR19960000840 申请日期 1996.01.17
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KIM, HO-YONG
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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