| 发明名称 |
REFRESH DISTURBANCE TEST APPARATUS OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR127360(Y1) |
申请公布日期 |
1999.04.15 |
| 申请号 |
KR19910023425U |
申请日期 |
1991.12.23 |
| 申请人 |
HYUNDAI MICRO ELECTRONICS CO.,LTD. |
发明人 |
AN, YEONG-CHANG |
| 分类号 |
H01L27/108;(IPC1-7):H01L27/108 |
主分类号 |
H01L27/108 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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