SEMICONDUCTOR WAFER PROBE CARD,申请号KR19950040167-传众专利搜索

发明名称	SEMICONDUCTOR WAFER PROBE CARD
摘要
申请公布号	KR0184057(B1)	申请公布日期	1999.04.15
申请号	KR19950040167	申请日期	1995.11.08
申请人	HYUNDAI MICRO ELECTRONICS CO.,LTD.	发明人	CHO, SEONG-CHEON
分类号	G01R1/067;(IPC1-7):G01R31/26	主分类号	G01R1/067
代理机构		代理人
主权项
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