| 发明名称 |
WAFER BURN-IN TEST CIRCUIT OF A SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR0182973(B1) |
申请公布日期 |
1999.04.15 |
| 申请号 |
KR19960018532 |
申请日期 |
1996.05.29 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
NOH, JAE-KOO |
| 分类号 |
G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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