发明名称 | 一种磁光克尔仪及其设计方法 | ||
摘要 | 已有的磁光克尔效应的测量设计方法均采用单只探测器,只能对材料的单区域进行单次测量。如要对材料的微区进行高密度的数据扫描测量,则测量的效率较低,不易实用。本发明采用了具有一定像素范围数目的CCD探测器,通过旋转检偏器,在不同检偏角位置连续获得完整的CCD信号,并通过快速富利埃分析,不仅可获得宏区的克尔效应,而且可获得高分辨率的微区分布的克尔效应,形成凝视式磁光克尔图象。采用本发明制造的凝视式磁光克尔仪,可提高效率5千至5万倍,并快速、准确获得各种磁结构。 | ||
申请公布号 | CN1213084A | 申请公布日期 | 1999.04.07 |
申请号 | CN98121930.6 | 申请日期 | 1998.09.30 |
申请人 | 复旦大学 | 发明人 | 陈良尧;郑玉祥;张荣君;夏国强;陈岳立;赵海斌;杨月梅 |
分类号 | G01R33/032 | 主分类号 | G01R33/032 |
代理机构 | 复旦大学专利事务所 | 代理人 | 姚静芳 |
主权项 | 1、一种磁光克尔仪,有光源,起偏器P,样品,检偏器,探测器组成,光源通过固定的起偏器,其方位角与入射面垂直,其特征在于检偏器A作连续旋转,经过检偏器A的光是探测器接受,探测器是有(750×380)~(8000×8000)像素数目范围的CCD探测器。 | ||
地址 | 200433上海市邯郸路220号 |