发明名称 PROBE CARD TESTER
摘要
申请公布号 KR0180610(B1) 申请公布日期 1999.04.01
申请号 KR19950046296 申请日期 1995.12.04
申请人 INTERNATIONAL TECHNOLOGY CO., LTD. 发明人 LEE, SUK-HAENG
分类号 G01R1/06;(IPC1-7):G01R1/06 主分类号 G01R1/06
代理机构 代理人
主权项
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