发明名称 Halbleiterspeicher und dessen Siebtestverfahren
摘要
申请公布号 DE69227232(T2) 申请公布日期 1999.04.01
申请号 DE19926027232T 申请日期 1992.11.20
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, KAWASAKI, KANAGAWA, JP 发明人 KUSHIYAMA, NATSUKI, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIV., MINATO-KU, TOKYO 105, JP;FURUYAMA, TOHRU, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIV., MINATO-KU, TOKYO 105, JP;NUMATA, KENJI, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIV., MINATO-KU, TOKYO 105, JP
分类号 G11C29/02;G11C29/24;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/02
代理机构 代理人
主权项
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