| 发明名称 |
DRIVER CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR0181307(B1) |
申请公布日期 |
1999.04.01 |
| 申请号 |
KR19950013408 |
申请日期 |
1995.05.26 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP. |
发明人 |
AWAJI, TOSHIAKI;ANDO, MASAKAZU |
| 分类号 |
G01R31/319;H03K17/00;H03K17/66;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/319 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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