发明名称 Process for etching a polycristalline Si1-xGex layer or stacked layers of polycristalline Si1-xGex and Si, and application to electronic devices
摘要 <p>Le procédé de gravure d'une couche de Si1-xGex polycristallin ou d'un empilement d'une couche de Si1-xGex polycristallin et d'une couche de Si polycristallin déposé sur un substrat et comportant à sa surface un masque en matériau inorganique, comprend une étape de gravure principale, anisotrope, de ladite couche ou dudit empilement, en utilisant ledit masque, au moyen d'un plasma gazeux haute densité d'un mélange de gaz constitué de chlore (Cl2) et, soit d'azote (N2) ou d'ammoniac (NH3), soit d'un mélange d'azote et d'ammoniac. Application : à la fabrication de structures de grille pour dispositifs CMOS. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP0905759(A1) 申请公布日期 1999.03.31
申请号 EP19980401433 申请日期 1998.06.12
申请人 FRANCE TELECOM 发明人 MONGET, CEDRIC;VALLON, SOPHIE;JOUBERT, OLIVIER
分类号 H01L21/302;H01L21/28;H01L21/3065;H01L21/3213;(IPC1-7):H01L21/321 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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