| 发明名称 |
LOGIC CIRCUIT VERIFICATION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND LOGIC CIRCUIT VERIFICATION METHOD FOR LOGIC CIRCUIT VERIFICATION DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1185810(A) |
申请公布日期 |
1999.03.30 |
| 申请号 |
JP19970244384 |
申请日期 |
1997.09.09 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
MORIGUCHI YASUO;MORI HIROYUKI;INOUE YOSHIO;ISHITA NOBUKATSU |
| 分类号 |
G06F17/50;(IPC1-7):G06F17/50 |
主分类号 |
G06F17/50 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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