发明名称 IMPACT TESTER FOR CRT
摘要
申请公布号 KR0157656(B1) 申请公布日期 1999.03.30
申请号 KR19940003841 申请日期 1994.02.28
申请人 DAEWOO ELECTRONICS CO.,LTD 发明人 PARK, KI-WON
分类号 G01M7/08;(IPC1-7):G01M7/08 主分类号 G01M7/08
代理机构 代理人
主权项
地址