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发明名称
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号
KR0172412(B1)
申请公布日期
1999.03.30
申请号
KR19950053526
申请日期
1995.12.21
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人
YOON, SUK-JAE;PARK, JIN-SUNG
分类号
G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00
主分类号
G11C29/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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