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发明名称 LOW-FREQUENCY PROBE FOR THE INNER DEFECT IN BILLET
摘要
申请公布号 KR0158563(B1) 申请公布日期 1999.03.30
申请号 KR19940040293 申请日期 1994.12.31
申请人 POHANG IRON & STEEL CO.,LTD;POHANG RESEARCH INSTITUTE OF INDUSTRIAL SCIENCE & TECHNOLOGY 发明人 SHIN, BYUNG-CHOL;OH, CHOL-KYUN;JANG, TAE-KEUN;KWON, JUNG-RAK
分类号 G01N29/04;(IPC1-7):G01N29/04 主分类号 G01N29/04
代理机构 代理人
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