发明名称 PROCEDE ET DISPOSITIF POUR TESTER LE FONCTIONNEMENT D'ELEMENTS D'UNE MICROSTRUCTURE
摘要
申请公布号 FR2736725(B1) 申请公布日期 1999.03.26
申请号 FR19960006983 申请日期 1996.06.06
申请人 ICT INTEGRATED CIRCUIT TESTING GESSELSCHAFT FUR HALBLEITERPRUFTECHNIK MBH 发明人 BRUNNER MATTHIAS;FEUERBAUM HANS PETER;FROSIEN JURGEN
分类号 G01R31/26;B81C99/00;G01M11/00;G01R31/302;G01R31/305;G09G3/00;H01J9/42;H01L21/66;H01L29/66;H01S5/00;(IPC1-7):G01R31/265 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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