发明名称 |
PROCEDE ET DISPOSITIF POUR TESTER LE FONCTIONNEMENT D'ELEMENTS D'UNE MICROSTRUCTURE |
摘要 |
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申请公布号 |
FR2736725(B1) |
申请公布日期 |
1999.03.26 |
申请号 |
FR19960006983 |
申请日期 |
1996.06.06 |
申请人 |
ICT INTEGRATED CIRCUIT TESTING GESSELSCHAFT FUR HALBLEITERPRUFTECHNIK MBH |
发明人 |
BRUNNER MATTHIAS;FEUERBAUM HANS PETER;FROSIEN JURGEN |
分类号 |
G01R31/26;B81C99/00;G01M11/00;G01R31/302;G01R31/305;G09G3/00;H01J9/42;H01L21/66;H01L29/66;H01S5/00;(IPC1-7):G01R31/265 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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