发明名称 光弹调制器之光轴量测法
摘要 一量测光弹调制器之光轴位置的仪器,包括:一偏振光源其偏振向为-45度之线性偏极光通过待测之光弹调制器,将此光弹调制器的相位从0.25λ调制到0.45λ,分别量测析光片在A及A+45度的亮度分布。以上两亮度分布的斜率比可直接量出A并可推测出光弹调制器之光轴位置。
申请公布号 TW354829 申请公布日期 1999.03.21
申请号 TW087105766 申请日期 1998.04.13
申请人 赵于飞 发明人 赵于飞
分类号 G01N21/17 主分类号 G01N21/17
代理机构 代理人
主权项 1.光弹调制器之光轴的量测方法由以下三部份所组成:一偏光光源,由一光源及一有旋转之偏光片组成,用以提供量测所需的偏极光,及一侦测系统,由一可旋转式析光片,一光侦测,一信号控制元件,锁相放大器,监控仪,及电脑等所组成的侦测系统,用以分解直流信号,量测及监控,及一待测之光弹调制器及其控制器;其特征在于:将入射偏光片调至45度之偏光角,并将析光片调至90度,将光弹调制器的相位从1.570调至2.83,经信号控制器将Vdc信号送入锁相放大器利用侦测器输入监控仪监控出射的亮度是否保持不变,如不变则表示光弹调制器之光轴已在零点,否则分别量测析光片在A及A+45度的Vdc的亮度,取此二亮度的斜率比即为tan 2A。2.依据请求专利部份第1项的光弹调制器之光轴量测方法,其中,前述线上即监控光弹调制器光轴,可将析光片的偏光角放置在90度,利用监控仪上所测得的Vdc(DC的亮度)在各相位下有无变化来监控光弹调制器之光轴是否在零度。3.依据请求专利部份第1项的光弹调制器之光轴的量测方法,其中,前述量测光弹调制器光轴的方法,可将析光片的偏光角放置在A度及A+45度,并分别量测此两亮度I(A),I(A+45),在此相位变化下的变化率比A即为光弹调制器光轴及析光片偏光轴之夹角。图式简单说明:第一图系绘示本发明的光弹调制器的光轴量测仪的架构图;及第二图系绘示本发明的光弹调制器的光轴量测仪之析光片的偏光角在各特定角度下所量测之亮度分布图;第三图系绘示本发明的光弹调制器的光轴量测仪在析光片的偏光角在90度下所量测之亮度分布图(y)更正前(yc)更正后。
地址 新竹县宝山乡双溪村明湖路六十三号五楼