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发明名称 INTEGRATED SEMICONDUCTOR CIRCUIT HAVING SCAN FLIP-FLOPS AT PREDETERMINED INTERVALS AND TESTING METHOD THEREOF
摘要
申请公布号 KR0158731(B1) 申请公布日期 1999.03.20
申请号 KR19940022138 申请日期 1994.09.02
申请人 NIPPON ELECTRIC K.K. 发明人 NAKAMURA, YOSHIYUKI
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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