发明名称 | 检验集成电路引线的设备和方法 | ||
摘要 | 一种检验放置在固定台上的IC引线的设备和方法,该设备包括:一扫描该固定台的光学图像识别单元;一相对于固定台移动识别单元的装置;根据其中输出信号检测识别单元位置的位置检测单元;和根据位置检测单元的信号控制该装置的控制单元,以便将识别单元定位在固定台上方的最佳位置。在短时间内自动检验IC引线的排列和状态,增加了生产率。 | ||
申请公布号 | CN1211069A | 申请公布日期 | 1999.03.17 |
申请号 | CN98119972.0 | 申请日期 | 1998.08.30 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 马延守 |
分类号 | H01L21/66 | 主分类号 | H01L21/66 |
代理机构 | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人 | 李晓舒 |
主权项 | 1.一种用于检验放置在一固定台上的IC引线的设备,所述设备包括:一配置在所述固定台上方的光学图像识别单元,所述光学图像识别单元用于向所述固定台投射一扫描束和接收从其中的反射光;用于相对于所述固定台移动所述光学图像识别单元的驱动装置;用于根据所述光学图像识别单元的输出信号,检测所述光学图像识别单元的位置的位置检测单元;和用于根据所述位置检测单元的检测信号控制所述驱动装置的控制单元,使得所述光学图像识别单元被定位在所述固定台上方的最佳位置。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |