PROBE PIN LIFTING/LOWERING MECHANISM FOR X-Y IN-CIRCUIT TESTER,申请号JP19970242097-传众专利搜索

发明名称	PROBE PIN LIFTING/LOWERING MECHANISM FOR X-Y IN-CIRCUIT TESTER
摘要
申请公布号	JPH1164466(A)	申请公布日期	1999.03.05
申请号	JP19970242097	申请日期	1997.08.22
申请人	HIOKI EE CORP	发明人	WADA TSUKASA
分类号	G01R1/06;G01R31/02;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R1/06
代理机构		代理人
主权项
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