发明名称 IC-TESTING APPARATUS AND METHOD FOR PARALLEL MEASUREMENT AT IC-TESTING APPARATUS
摘要
申请公布号 JPH1152016(A) 申请公布日期 1999.02.26
申请号 JP19970206249 申请日期 1997.07.31
申请人 ANDO ELECTRIC CO LTD 发明人 KYODA OSAMU
分类号 G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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