| 发明名称 |
DOUBLE SPEED INSPECTION DEVICE FOR SMALL ELECTRIC ELEMENT AND ITS METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1138062(A) |
申请公布日期 |
1999.02.12 |
| 申请号 |
JP19970335760 |
申请日期 |
1997.12.05 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRO MECH CO LTD |
发明人 |
RYU SEKISHO;KAN INKO;RIN KOKEI |
| 分类号 |
G01R31/00;B07C5/344;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/00 |
主分类号 |
G01R31/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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