| 发明名称 |
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1138088(A) |
申请公布日期 |
1999.02.12 |
| 申请号 |
JP19970189689 |
申请日期 |
1997.07.15 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD;FUJITSU VLSI LTD |
发明人 |
INAGAKI YASUKUNI |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F12/16;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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