发明名称 | 金属基体表面非金属涂层厚度非接触测量方法及其装置 | ||
摘要 | 本发明属于机械几何尺寸测量技术领域,包括用激光三角法位移传感器和大量程电涡流传感器组成复合传感器,二者固定在同一基体上,无相对运动;用激光三角法位移传感器,测量非金属涂层表面与复合传感器测头之间距离的变化量用电涡流传感器测量金属基体表面与复合传感器测头之间的距离变化量;二者求差,即是非金属涂层的厚度。本发明简单、易行,可实现生产线上金属基体表面非金属涂层厚度实时、连续地测量。 | ||
申请公布号 | CN1207493A | 申请公布日期 | 1999.02.10 |
申请号 | CN98117742.5 | 申请日期 | 1998.09.04 |
申请人 | 清华大学 | 发明人 | 李岩;张玲香;张书练;韩艳梅 |
分类号 | G01B7/06;G01B11/06 | 主分类号 | G01B7/06 |
代理机构 | 清华大学专利事务所 | 代理人 | 廖元秋 |
主权项 | 1、一种金属基体表面非金属涂层厚度非接触测量方法,其特征在于,包括以下步骤:1)用激光三角法位移传感器和大量程电涡流传感器组成复合传感器,所说的激光三角法位移传感器和大量程电涡流传感器二者之间的相对位置的确定用标准块标定后,固定在同一基体上,无相对运动;2)用所说的激光三角法位移传感器,非接触地测量非金属涂层表面与所说的复合传感器测头之间距离的变化量;3)用所说的电涡流传感器测量金属基体表面与复合传感器测头之间的距离变化量;4)将所说的激光三角法测出的非金属涂层表面离所说的测头的距离与电涡流传感器测出的金属基体表面与该测头之间的距离求差,即是非金属涂层的厚度。 | ||
地址 | 100084北京市海淀区清华园 |