发明名称 METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR WAFER DEVICE
摘要
申请公布号 JPH1126537(A) 申请公布日期 1999.01.29
申请号 JP19970196437 申请日期 1997.07.07
申请人 NEC CORP 发明人 MAEDA TETSUNORI
分类号 G01R11/22;G01R31/3185;G06F11/22;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R11/22
代理机构 代理人
主权项
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