集成电路设备测试器

摘要

在用于对与测试头连接的IC设备进行测试的IC设备测试器中,测试器主系统与测试头之间的所有信号交换都采用光信号交换,它们之间的信号传输线都由光纤构成,因此,连接测试器主系统与测试头的缆线组的直径可以做得很小,并且可以根据需要来延长缆线组的长度。

主权项

1．一种集成电路设备测试器，它在控制处理器的控制下，由模式发生器产生模式数据和期望数据，由格式器将所述模式数据格式化成预定模式波形，由驱动器将所述模式波形以参考电压形式施加到被测IC设备上，由模拟比较器将来自所述被测IC设备的应答信号与参考逻辑电平进行比较，然后作出逻辑判断，由逻辑比较器将判定后的逻辑与来自所述模式发生器的期望数据进行比较，以判定所述被测IC设备是次品还是合格品，并将失效数据写入到失效存储器中，所述IC设备测试器包括：装有所述控制处理器的测试器主系统；装在所述测试器主系统内的用于输出串行数据的第一串行数据收发器装置，它用于为所述驱动器设置所述参考电压和为所述模拟比较器设置所述参考逻辑电平；装在所述测试器主系统内的电／光转换器装置，它用于将所述串行数据转换成光信号；具有所述驱动器和模拟比较器的测试头，其中，所述驱动器用于将测试模式施加到所述IC设备上，模拟比较器用于判定所述IC设备的应答逻辑；装在所述测试头内的光／电转换器装置，它用于将所述光信号转换成电信号的串行数据；装在所述测试头内的第二串行数据收发器装置，它用于将所述串行数据转换成并行参考电压数据和并行参考逻辑电平数据；装在所述测试头内的D／A转换器装置，它用于将所述并行参考电压数据和所述并行参考逻辑电平数据分别转换成模拟参考电压和参考逻辑电平，并把这些转换结果分别设置到所述驱动器和所述模拟比较器上；和光纤装置，它用于将所述电／光转换器装置与所述光／电转换器装置耦合起来。